Sveučilište u Zagrebu Fakultet elektrotehnike i računarstva
Citirajte ovaj rad
Meter, J. (2022). Poboljšanje djelomično sastavljenog genoma pomoću statističke analize Hi-C očitanja (Završni rad). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:465196
Meter, Josip. "Poboljšanje djelomično sastavljenog genoma pomoću statističke analize Hi-C očitanja." Završni rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2022. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:465196
Meter, Josip. "Poboljšanje djelomično sastavljenog genoma pomoću statističke analize Hi-C očitanja." Završni rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2022. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:465196
Meter, J. (2022). 'Poboljšanje djelomično sastavljenog genoma pomoću statističke analize Hi-C očitanja', Završni rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, citirano: 17.11.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:465196
Meter J. Poboljšanje djelomično sastavljenog genoma pomoću statističke analize Hi-C očitanja [Završni rad]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva; 2022 [pristupljeno 17.11.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:465196
J. Meter, "Poboljšanje djelomično sastavljenog genoma pomoću statističke analize Hi-C očitanja", Završni rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb, 2022. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:465196