Sveučilište u Zagrebu Fakultet elektrotehnike i računarstva Zavod za elektroniku, mikroelektroniku, računalne i inteligentne sustave
Citirajte ovaj rad
Žilak, J. (2017). Characteristics of radio frequency integrated circuits and device reliability in horizontal current bipolar transistor technology (Disertacija). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:980460
Žilak, Josip. "Characteristics of radio frequency integrated circuits and device reliability in horizontal current bipolar transistor technology." Disertacija, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:980460
Žilak, Josip. "Characteristics of radio frequency integrated circuits and device reliability in horizontal current bipolar transistor technology." Disertacija, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:980460
Žilak, J. (2017). 'Characteristics of radio frequency integrated circuits and device reliability in horizontal current bipolar transistor technology', Disertacija, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, citirano: 06.12.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:980460
Žilak J. Characteristics of radio frequency integrated circuits and device reliability in horizontal current bipolar transistor technology [Disertacija]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva; 2017 [pristupljeno 06.12.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:980460
J. Žilak, "Characteristics of radio frequency integrated circuits and device reliability in horizontal current bipolar transistor technology", Disertacija, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb, 2017. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:980460