Sveučilište u Zagrebu Fakultet elektrotehnike i računarstva
Citirajte ovaj rad
Ratković, M. (2017). Model dubokog učenja za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION (Diplomski rad). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:308213
Ratković, Marko. "Model dubokog učenja za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:308213
Ratković, Marko. "Model dubokog učenja za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:308213
Ratković, M. (2017). 'Model dubokog učenja za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION', Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, citirano: 15.11.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:308213
Ratković M. Model dubokog učenja za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION [Diplomski rad]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva; 2017 [pristupljeno 15.11.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:308213
M. Ratković, "Model dubokog učenja za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION", Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb, 2017. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:308213