Sveučilište u Zagrebu Fakultet elektrotehnike i računarstva
Citirajte ovaj rad
Selak, A. M. (2018). Skriveni Markovljev model za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION (Diplomski rad). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:544686
Selak, Ana Marija. "Skriveni Markovljev model za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2018. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:544686
Selak, Ana Marija. "Skriveni Markovljev model za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2018. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:544686
Selak, A. M. (2018). 'Skriveni Markovljev model za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION', Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, citirano: 30.09.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:544686
Selak AM. Skriveni Markovljev model za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION [Diplomski rad]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva; 2018 [pristupljeno 30.09.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:544686
A. M. Selak, "Skriveni Markovljev model za određivanje očitanih baza dobivenih uređajem za sekvenciranje MinION", Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb, 2018. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:544686